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  1. B_05 工学ジャーナル
  2. vol.5(2006)

論理回路に対するテスト実行時間削減法

https://ehime-u.repo.nii.ac.jp/records/1238
https://ehime-u.repo.nii.ac.jp/records/1238
b31aa247-48e3-4964-aa7f-ea205c487b8d
名前 / ファイル ライセンス アクション
AA12158096_2006_05-11.pdf AA12158096_2006_05-11.pdf (672.1 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2012-04-06
タイトル
タイトル 論理回路に対するテスト実行時間削減法
言語 ja
タイトル
タイトル Reduction of test application time for logic circuits
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 樋上, 喜信

× 樋上, 喜信

ja 樋上, 喜信

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梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

ja 梶原, 誠司

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市原, 英行

× 市原, 英行

ja 市原, 英行

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高松, 雄三

× 高松, 雄三

ja 高松, 雄三

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書誌情報 ja : 工学ジャーナル = Annual journal of engineering, Ehime University

巻 5, p. 98-109, 発行日 2006-03
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-9895
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12158096
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-07-25 11:35:11.419933
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